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基于Phasics四波橫向剪切干涉zhuan利技術，SID4-HR波前分析儀提供了一個無yulun比的相位和強度高分辨率（400x300測量點）圖。由于它測量發散光束不需要中繼鏡頭，簡單對齊即可測試光學元器件。其高分辨率確保結果的重復性。高分辨率還開辟了波前傳感的新用途：等離子體密度測量，相位成像顯微… Phasics 高分辨波前傳感器

基于Phasics專li的四波橫向剪切干涉技術和高質量的InGaAs探測器，提供了一個非常高的空間分辨率和靈敏度。確保測量紅外鏡頭和短波紅外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光譜范圍從0.9到1.7µm，這種波前傳感器覆蓋可見光、近紅外和短波紅外區域且不需要任何校準直接進行測量。 Phasics 波前傳感器

Phasics 波前傳感器SID4-UVHR是*適用于光學元件的特性（用于光刻技術、半導體…）和表面檢查（透鏡和晶片…）。由于它小巧，易于使用，能有效地適應各種實驗條件。

Phasics 波前傳感器基于Phasics四波橫向剪切干涉技術的SID NIR波前傳感器波長范圍覆蓋1.5- 1.6μm，具有超高分辨率（160x120測量點）。

phasics真空環境兼容波前分析儀SID4-V是目前市場上一款可應用于真空度在10-6 mbar環境中的波前分析儀，廣泛應用于高功率激光測試中。

高分辨近紅外波前分析儀 基于Phasics專li的四波橫向剪切干涉技術和高質量的InGaAs探測器，提供了一個非常高的空間分辨率和靈敏度。確保測量紅外鏡頭和短波紅外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光譜范圍從0.9到1.7µm，這種波前傳感器覆蓋可見光、近紅外和短波紅外區域且不需要任何校準直接進行測量。

產品介紹：法國Phasics SID4系列波前分析儀（上海屹持光電代理），基于其波前測量——四波橫向剪切干涉技術（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作為夏克-哈特曼技術的改進型，這種*的技術將超高分辨率和超大動態范圍結合在一起。任何應用下，其都能實現全面、簡便、快速的測量。

metrolux 夏克-哈德曼波前分析儀WFS Metrolux 夏克-哈德曼波前分析儀 WFS3743-40-200可在線分析激光及其他光源的波前相位分布，也可高精度的測量光學器件的像差。可以用于手機和相機的鏡頭等光學透鏡質量控制。夏克-哈特曼式傳感器的波前監控器配合外部軟件可用于波前數據分析。